010-87681080
010-87681080
產品中心
PRODUCTS CNTER
產品簡介
品智創(chuàng)思 芯片平整度測試儀設備結構美觀大方，操作簡便，結合本公司自主研發(fā)的測量軟件，可實現準確的元器件共面性、工件外形尺寸等測量，性價比高、拓展性強、功能全面、可滿足各種常規(guī)測量需求。
相關文章
品智創(chuàng)思 芯片平整度測試儀簡介
通過線激光對芯片有焊錫球及的表面，或者IC上的引腳面進行掃描，采集出三維點集數據，并由軟件處理生成工件的3D圖形，通過軟件算法提取3D圖中每個焊錫球的高點或者低點，再用所有高點或者低點生成一個平面，并計算出平面度值即為焊錫球或者引腳共面性。設備采用固定龍門式XYZ三軸運動結構，內部主體框架為大理石，可以保證穩(wěn)定的力學結構。托盤和被測工件可放在工作臺玻璃上，前后運動至測量區(qū)域，線掃激光頭和視覺物鏡組合體可以沿著左右運動掃描測量，并可以上下調焦以便適應不同高度面的測量。
品智創(chuàng)思 芯片平整度測試儀的應用
廣泛應用于晶元、芯片（DIP、SOP、QFP、QFN、BGA、LGA、PGA）等共面性檢測，機械制造、電子、汽車、五金、塑料、模具等行業(yè)，可以對工件尺寸、形狀和位置公差進行精密檢測，從而完成自動拾取、自動分選、零件檢測、外形測量、過程控制等任務。
產品原理
通過線激光對芯片有焊錫球及引腳的表面進行掃描，采集出三維點云數據，并由軟件處理生成工件的3D圖形，通過軟件算法提取3D圖中每個焊錫球或引腳的最高點，再用所有最高點生成一個平面，并計算出平面度值即為焊錫球或者引腳共面性。
Copyright © 2026北京品智創(chuàng)思精密儀器有限公司 All Rights Reserved 備案號：京ICP備19005501號-1
技術支持：化工儀器網
管理登錄 sitemap.xml
當前位置：
產品分類
上一個：
返回列表